江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。
我们的研发团队具备十年以上的从业经验，光谱分析仪，经与海内外多名通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，东营测厚仪，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子等制造领域。
涂层测厚仪操作规程有哪些
我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，测厚仪厂家，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：
一、维护及注意事项
1. 应避免仪器及测头受到强烈震动；
2. 避免仪器置于过于潮湿的环境中；
3. 插拔测头时，应捏住活动外套沿轴线用力，不可旋转测头，以避 免损坏测头电缆芯线。
4. 油、灰尘的附着会使测头线逐渐老化、断裂，使用后应清除缆线上的污垢。
5. 当仪器出现非正常现象时，请不要拆卸或调节任何固定装配的零件，请交给厂家维修部门检测、维修。
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
性能优势：
下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。
微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。
率的jie shou qi ：即使测试0.01mm2以下的样品，几秒钟也能达到稳定性。
精密微型滑轨：快速精准定位样品。
EFP先进算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。
测厚仪和膜厚仪一样吗
测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
膜厚仪：属于测厚仪的一种，膜厚仪测量覆膜薄膜的厚度，手持式的有涂层测厚仪，为磁阻法和电涡流原理，台式的不同原理也有好多种，电感原理等。
江苏一六仪器 测厚仪 多道脉冲分析采集 先进EFP算法
膜厚仪又名膜厚测试仪分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理是，光谱测厚仪，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
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