Micro Pioneer XRF-2000系列电镀层膜厚仪

Micro Pioneer XRF-2000系列电镀层膜厚仪
高品质、高性价比X射线系统用于镀层厚度和成份测量XRF-2000系列

产品规格：

Microsoft Windows
XRF-2000使用Microsoft Windows中，允许多个任务同时进行。在操作过程中也能够审查测量，进行频谱分析，并统计处理所有同时自动测量数据发送到Microsoft Excel或其它质量控制程序。

多种测量功能
XRF-2000快速和非破坏性地测量单层，多层，和合金的组合物。在电镀液和合金的定性分析材料的金属含量也很快确定。

“点测”自动定位零件
只要将光标移动到视频图像的任何区域，点击鼠标，和舞台动作直接与X射线束下的一部分。速度快，可控部件定位在几秒钟内完成的轻松。

自定义统计报表
即时预览任何的五个自定义报表格式的数据。
测量数据，包括统计数据，X-Bar＆R的图表和被测量的样品，即使是图片，可以打印各种布局。外的容限测量以红色突出显示。

激光对焦功能
精密激光聚焦于部分提供一致的测量精度可能，并消除操作错误。

样品台向前易于工件装载
打开箱门自动向前带来的样品台易于工件装卸。的样品放置也得益于定位激光。

多室机型
三个腔室可包括H，L，和PCB的机型。可选功能，如可编程的阶段，过滤器和多个准直器允许各种尺寸和形状为您的特殊要求的零件的测量。

X射线光束视频显示
XRF-2000的X射线束图像显示的实际尺寸确保小零件的定位。

独有的“无快门”设计延长灯管寿命
不像其他的X射线系统，X射线荧光光谱2000产生X射线，而只有进行测量。由于X射线管完全测量之间关断时，没有必要为一个机械快门。减X射线管的使用等于冷却器的运行温度和较长的管寿命。

室温度调节
另一首在X射线的设计是独有的冷却控制，以维持关键系统的电子温度一致。 测量的稳定性是通过在温度变化的降低进一步增强。

2-D和3-D镀层厚度绘图
镀层厚度的地形测绘是很容易做到。所得到的图形被显示在颜色或可以打印用于进一步分析。表演节目包括自动随机和固定距离的测量。

自动X射线光束对准
光束位置特征对准的X-射线束的摄像机图像。这可以防止测量误差，不必要的服务调用，或由于没有对准而造成的仪器的停机时间。

仪器服务和支持
仪器维修和诊断是由智能化产品的设计和使用可互换组件的简化。
XRF服务，校准和技术支持由上海益朗仪器有限公司技术经验丰富的工作人员提供

X射线校正标准片
上海益朗仪器有限公司可提供各种规格金属镀层标准片，完善特殊产品的镀层、厚度测试。

可选型号
型号 Type H(XRF-2000H)
主机箱大小 610W x 670D x 600H
可测量样品大小 550W x 550D x 100H
XYZ三轴移动范围 200W x 150D x 100H
大负重 5kg
应用 测量一般工件

型号 Type L(XRF-2000L)
主机箱大小 610W x 670D x 490H
可测量样品大小 550W x 550D x 30H
XYZ三轴移动范围 200W x 150D x 30H
大负重 3kg
应用 测量一般PCB/半导体产品

型号 Type PCB(XRF-2000PCB)
主机箱大小 610W x 670D x 490H
可测量样品大小 Infinity x 30H
XYZ三轴移动范围 200W x 150D x 30H
大负重 3kg
应用 开放式设计,特大PCB适用