残余应力测量系统折射仪PA-300

产品编号:105743024 修改时间:2022-03-03 11:31 发布IP:163.142.35.14 访问统计:1次
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品牌: PHL
价格: 面议
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产地: 北京折射仪
发货地址: 昌平区回龙观西大街115号龙冠大厦612室
 
 
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残余应力测量系统折射仪PA-300的详细介绍 相关文档: PDF DOC TXT
      PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的**选择
  
 
 主要特点:
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。
  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。
  • 更直观的读取数据,无遗漏数据点。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
  • 高达2056x2464像素的偏振相机。

 应用领域:

  • 光学镜片
  • 智能手机玻璃基板
  • 碳化硅,蓝宝石等


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