车载导航是数字还是模拟-瑞泰威科技-福田区车载数字

产品编号:67466489 修改时间:2020-05-22 13:38
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IC?耐久性测试

耐久性测试项目(Endurance test items )Endurance cycling test, Data retention test①周期耐久性测试(Endurance Cycling Test )

目的: 评估非挥发性memory器件在多次读写算后的持久性能

Test Method: 将数据写入memory的存储单元,在擦除数据,重复这个过程多次

测试条件: 室温,或者更高,每个数据的读写次数达到100k~1000k

具体的测试条件和估算结果可参考以下标准

MIT-STD-883E Method 1033




②数据保持力测试(Data Retention Test)

目的: 在重复读写之后加速非挥发性memory器件存储节点的电荷损失

测试条件: 在高温条件下将数据写入memory 存储单元后,多次读取验证单元中的数据

失效机制:150℃

具体的测试条件和估算结果可参考以下标准:

MIT-STD-883E Method 1008.2

MIT-STD-883E Method 1033

在了解上述的IC测试方法之后,IC的设计制造商就需要根据不用IC产品的性能,用途以及需要测试的目的,福田区车载数字,选择合适的测试方法,的降低IC测试的时间和成本,从而有效控制IC产品的质量和可靠度。


IC半导体的基础知识(三)

杂质半导体 在本征半导体中,如果掺入微量的杂质(某些特殊元素),将使掺杂后的半导体(杂质半导体)的导电能力显著改变。根据掺入杂质性质的不同,杂质半导体分为电子型半导体(N型)和空穴型半导体(P型)两大类。

1.N型半导体

若在纯净的硅晶体中掺入微量的五价元素(如磷),这样,硅原子占有的某些位置会被掺入的微量元素(如磷)原子所取代。而整个晶体结构基本不变。磷原子与硅原子组成共价键结构只需四个价电子,车载导航是数字还是模拟,而磷原子的外层有五个价电子,多余的那个价电子不受共价键束缚,只需获得很少的能量就能成为自由电子。由此可见,掺入一个五价元素的原子,就能提供一个自由电子。必须注意的是,产生自由电子的同时并没有产生空穴,但由于热运动原有的晶体仍会产生少量的电子空穴对。所以,只要在本征半导体中掺入微量的五价元素,就可以得到大量的自由电子,且自由电子数目远比掺杂前的电子空穴对数目要多得多。




这种以自由电子导电为主要导电方式的杂质半导体称为电子型半导体,简称N型半导体。N型半导体中存在着大量的自由电子,cmmb车载数字电视费用,这就提高了电子与空穴的复合机会,相同温度下空穴的数目比掺杂前要少。所以,在N型半导体中,电子是多数载流子(简称多子),空穴是少数载流子(简称少子)。N型半导体主要靠自由电子导电,掺入的杂质浓度越高,自由电子数目越大,导电能力也就越强。

在N型半导体中,一个杂质原子提供一个自由电子,当杂质原子失去一个电子后,就变为固定在晶格中不能移动的正离子,但它不是载流子。因此,N型半导体就可用正离子和与之数量相等的自由电子去表示。


质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC 产品的生命,好的品质,长久的耐力往往就是一颗IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题,验证什么,如何去验证,哪里去验证,这就是what, how , where 的问题了。解决了这三个问题,质量和可靠性就有了保证,制造商才可以大量地将产品推向市场,客户才可以放心地使用产品。现将目前较为流行的测试方法加以简单归类和阐述,力求达到抛砖引玉的作用。




质量(Quality) 就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC)的要求,是否符合各项性能指标的问题;可靠性(Reliability)则是对产品耐久力的测量,它回答了一个产品生命周期有多长,简单说,它能用多久的问题。所以说质量(Quality)解决的是现阶段的问题,车载数字影音导航系统,可靠性(Reliability)解决的是一段时间以后的问题。知道了两者的区别,我们发现,Quality 的问题解决方法往往比较直接,设计和制造单位在产品生产出来后,通过简单的测试,就可以知道产品的性能是否达到SPEC 的要求,这种测试在IC的设计和制造单位就可以进行。相对而言,Reliability 的问题似乎就变的十分棘手,这个产品能用多久,who knows? 谁会能保证今天产品能用,明天就一定能用?为了解决这个问题,人们制定了各种各样的标准.




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