S元素分析厂家-浪声仪器有限公司

f 试件的变形测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。g 表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，S元素分析厂家，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。


3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

二：仪器测量不准————

①请系统校准仪器，标定，使之符合误差范围------误差遵循≦3%(厚度值）±1um如需测试更加请在被测工件的光滑裸基上（而不是随机带的的铁块）进行系统校准。

②请检查探头前端是否磨损，是否变形，有附着物质等-------探头外护套是否不在水平等，变形可适当用砂纸打磨修正，处理干净.

③被测件基材表面粗糙度影响，引起系统误差和偶然误差----- 测量时在不同位置增加测量次数，克服偶然误差。或用砂纸打磨基材重新校对仪器零点。

④测量手法以及探头的放置-------需保持探头与试样垂直

⑤被测件曲度---------在该探头所适应的曲率半径下，重新校准。尤其管道凸面，注意探头V型卡槽稳定放置。

⑥其它因素请参阅说明书-----------咨询公司售后服务或返厂检修

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