PHL应力双折射仪器
PHL WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪
PHL应力双折射仪器简介：
应力双折射仪，能够快速、测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO
匹配显微镜测量双折射
测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体
薄膜、金属晶体、不透明基板等材料
在显微镜视场下评估和管理双折射分布
PHL应力双折射仪器参数：
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型号
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WPA-Micro
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测量范围
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0-4000nm
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重复性
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<1.0nm
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像素数
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384x288
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测量波长
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523nm,543nm,575nm
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尺寸
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250x487x690.0mm
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观测到的大面积
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5倍物镜：1.1x0.8mm;10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um;50倍物镜：110x80um;100倍物镜：55x40um.
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自身重量
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11kg
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数据接口
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GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）
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电压电流
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AC100-240V（50/60Hz）
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软件
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WPA-View（for Micro）
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