一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，先进EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用
1．一般要求
使用可靠的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。
参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，镀层测厚仪，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。
金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。
2．标准块的选择
可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。
3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用
校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。
如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。
江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名专家通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪
X荧光光谱仪原理及应用领域
一、简单原理
每个元素受高能辐射激发，即发射出具有一定特征的X射线谱线。通过软件测试分析得出该谱线波长，即可知道是那种元素（定性）；通过分析测试其强度，得出该元素含量（定量）。X荧光光谱分析是一种非常常见的分析技术，
二、应用领域
X荧光光谱仪作为一种常见的分析技术手段，在现实生活中有着非常广泛的应用，主要可以分为以下四大类：
1.镀层行业
电镀行业尤其以工业电镀为主，在工业生产中，通常我们为了产品尤其是金属类能达到一定的性能会在其表面镀上另一种金属，镀层测厚仪器，这种金属电镀的膜厚往往是受管控，而X荧光光谱仪就是其best的管控者。
2.重金属检测
我们的衣服帽子、喝水的杯子、小孩的玩具等等这些都跟我们有着紧密的关联，但这其中也许就含有对我们人体是有害的重金属，如Cr、Br、Cl、Pb、Hg、Cd、As等长期接触会导致人体的病变甚至死亡，为了使用安全，工业生产时需对产品重金属检测管控（RoHS检测），x射线镀层测厚仪，而X荧光仪器就能对其进行监测。
3.元素成分分析
元素成分分析应用也是更加广泛，如岩石矿产的开发开采，钢铁、铜合金、铝合金等可能因某一种元素的含量不同就会大大改变其物理性质，为达到这种物理性质就需要控制相关元素的含量，通过X荧光仪器的检测就可以很好的生产出我们所需的物品，另外还可以利用成分分析原理对珠宝首饰进行真假鉴定。
4.古董的检测
X荧光仪器在古董的检测鉴定上也起着重要的作用，金属镀层测厚仪，通过仪器检测对产品进行定性分析可得其元素成分，从而对产品的年限进行一个判断，得出结论。
江苏一六仪器 X射线荧光光谱仪XTU/X-RAY系列
技术参数
X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管
准直器φ 0.05 mm ；φ 0.1 mm；φ 0.2 mm；φ 0.5 mm； 准直器任意选择或者任意切换
近测距光斑扩散度：9%
测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异型样品，变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)
样品观察：1/2.5彩色CCD，变焦功能对焦方式高敏感镜头，手动对焦
放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍
随机标准片：十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件：联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱
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