高精度功率分析仪价格-惠州高精度功率分析仪-科翔电子值得信赖

产品编号:48421978 修改时间:2019-11-26 15:25
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  分析仪的功能

  定时分析

  定时分析仪是逻辑分析仪中类似示波器的部分,它与示波器显示信息的方式相同,水平轴代表时间,垂直轴代表电压幅度。定时分析仪首先对输入波形的采样,然后使用用户定义的电压阈值,确定信号的高低电平。定时分析仪只能确定波形是高还是低,高精度功率分析仪价格,不存在中间电平。所以定时分析仪就像一台只有 1 位垂直分辨率的数字示波器。但是,定时分析仪并不能用于测试参量,如果你用定时分析测量信号的上升时间,那你就用错了仪器。如果你要检验几条线上的信号的定时关系,定时分析仪就是合理的选择。如果定时分析仪前一次采样的信号是一种状态,这一次采样的信号是另一种状态,那么它就知道在两次采样之间的某个时刻输入信号发生了跳变,但是,定时分析仪却不知道的时刻。坏的情况下,不确定度是一个采样周期。

  跳变定时

  如果我们要对一个长时间没有变化的采样并保存数据,跳变定时能有效地利用存储器。使用跳变定时,定时分析只保存信号跳变后采集的样本,以及与上次跳变的时间。

  毛刺捕获

  数字系统中毛刺是令人头疼的问题,某些定时分析仪具有毛刺捕获和触发能力,可以很容易的跟踪难以预料的毛刺。定时分析可以对输入数据进行有效地采样,跟踪采样间产生的任何跳变,从而容易识别毛刺。在定时分析中,毛刺的定义是:采样间穿越逻辑阈值多次的任何跳变。显示毛刺是一种很有用的功能,有助于对毛刺触发和显示毛刺产生前的数据,从而帮助我们确定毛刺产生的原因。

  状态分析

  逻辑电路的状态是:数据有效时,对总线或信号线采样的样本。定时分析与状态分析的主要区别是:定时分析由内部时钟控制采样,采样与被测系统是异步的;状态分析由被测系统时钟控制采样,采样与被测系统是同步的。用定时分析仪查看事件 “ 什么时候 ” 发生,用状态分析仪检查发生了“ 什么 ”事件。定时分析仪通常用波形显示数据,惠州高精度功率分析仪,状态分析仪通常用列表显示数据。


  WT-3000高精度功率分析仪

产品概述

  WT3000的功率测量基本精度为±0.02%;频率测量范围为:DC、0.1Hz~1MHz;具备4个可同步测量的输入单元,支持输入输出同步测量,可以同时测量电压、电流、功率和谐波畸变率(THD);内置打印机功能,8.4英寸TFT彩色液晶显示,直观的面板设计为用户的使用带来了方便;提供了GP-IB、RS232、USB、以太网等通讯接口;提供PC分析软件,可进一步对数据进行整理和分析。

  YOKOGAWA高精度的功率计:WT3000是YOKOGAWA的WT系列产品中*高精度的功率计。WT系列产品为满足用户的不同需求而设计。具有高性价比的;WT200系列在生产线应用中非常受欢迎。WT1600可以使用数值显示,波形显示和趋势显示等多种方法观察测量数据,操作简单,易于观察:量程设定更加简便,高精度功率分析仪的用途,显示参数的设定更加快捷,满足了用户需求。





  光谱分析原理

  原子发射光谱分析是根据原子所发射的光谱来测定物质的化学组分的。不同物质由不同元素的原子所组成,而原子都包含着一个结构紧密的原子核,核外围绕着不断运动的电子。每个电子处于一定的能级上,具有一定的能量。在正常的情况下,原子处于稳定状态,它的能量是的,这种状态称为基态。但当原子受到能量(如热能、电能等)的作用时,原子由于与高速运动的气态粒子和电子相互碰撞而获得了能量,使原子中外层的电子从基态跃迁到更高的能级上,横河高精度功率分析仪,处在这种状态的原子称激发态。电子从基态跃迁至激发态所需的能量称为激发电位,当外加的能量足够大时,原子中的电子脱离原子核的束缚力,使原子成为离子,这种过程称为电离。原子失去一个电子成为离子时所需要的能量称为一级电离电位。离子中的外层电子也能被激发,其所需的能量即为相应离子的激发电位。处于激发态的原子是十分不稳定的,在极短的时间内便跃迁至基态或其它较低的能级上。

  当原子从较高能级跃迁到基态或其它较低的能级的过程中,将释放出多余的能量,这种能量是以一定波长的电磁波的形式辐射出去的,其辐射的能量可用下式表示:(1)E2、E1分别为高能级、低能级的能量,h为普朗克(Planck)常数;v及λ分别为所发射电磁波的频率及波长,c为光在真空中的速度。

  每一条所发射的谱线的波长,取决于跃迁前后两个能级之差。由于原子的能级很多,原子在被激发后,其外层电子可有不同的跃迁,但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”),因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线,这些谱线按一定的顺序排列,并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析),而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关,因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。这就是发射光谱分析的基本依据。

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